X선을 물질에 통과시키면 그 일부는 간섭 효과를 일으켜 회절 X선으로 되어 반사된다. 그것은 그 물질의 구성 단위인 결정의 면 간격이 X선의 파장과 같은 정도이기 때문에 일어나는 것이다. 이 회절 X선의 강도는 최종적인 관측에서 시료내 결정 각각의 단위 격자에서의 회절 X선을 집적시킨 것으로 각 회절 X선의 방향과 강도는 각각의 결정 독자적인 것이므로 이것을 측정하는 데 분석이 필요하다. 다시 말해, 분말법 카메라나 분말용 회절계(deflectometer)에 의해 얻어진 회절상을 미리 알고 있는 물질의 회절상과 비교해서 미지 물질을 알아내는 것이며, 정량 분석은 시료에서의 회절 X선 강도가 시료 내의 결정량의 대소에 의해 변화하는 것을 이용하여 회절 X선 강도를 측정하는 것이다.